我正在寻找有关如何为 STM32L432KCU6 上的 ADC 选择采样时间的指南。我在AN2834中找到了一些表，但它们是针对STM32H7系列的。我有兴趣获得 ±0.5 LSB 精度和 12 位分辨率。我的 ADC 时钟运行在 32 MHz。
我的一个问题是 ADC 是否在每次采样之间对内部电容器 (C-adc) 进行放电（重置）。如果是这样，那就告诉我，我需要给电路足够的时间将 C-adc 从 0 充电到目标电压，最坏情况的时间是目标电压为 Vref（3 伏）时。
在我当前的配置中，我注意到当我增加提供给 ADC 的电压时，计数值在接近 4086 时停止增加，该值小于最大值 4095。这是否意味着我的采样时间太低？
另外，如何确定内部通道温度传感器 (IN17) 的采样时间？
这是我尝试过的：将所有通道的采样时间设置为 12.5 个周期并最大化施加到其中一个 ADC 通道的电压，我看到该通道的最高计数约为 4086。当我将采样时间更改为 24.5 个周期时，我看到该通道的最高计数约为 3856。我预计更长的采样时间可以让计数值更高，但结果却出乎意料地更低。
我的一个问题是 ADC 是否放电（重置） 每个样本之间是否存在内部电容器（C-adc）。
不。并且您不能对其状态做出任何假设，它可能会受到先前样本的影响，即不一定正确：
最坏情况是目标电压为 Vref（3 伏）时
另请查看勘误表（我不知道 1ms 勘误表是否适用于该特定型号），并确保您在使用前已校准 ADC。
较高采样时间下增加的误差是意想不到的，因此可能需要进一步调查：描述您的硬件（是否是像 Nucleo 这样的“已知良好”硬件？VREF+/VDDA/VSSA 到底是如何连接的，它们是否稳定？涉及电压吗？发布一个最小但完整的可编译示例来展示问题。
另外，如何确定内部通道的采样时间 温度传感器（IN17）？在数据表中给出。即使输入校准值等，也不要期望精度
低于几摄氏度。
JW